实验室 + 动态 + 静态
产品系统
按测试目标、器件和量产阶段选择。
八类系统按照威宇佳产品画册顺序组织，从可靠性和特性测试延伸至 FT、KGD 与配套硬件。
快速找到入口
无功老化
FT + 单管/IPM
KGD / 晶圆
01 · 可靠性 · 模块寿命验证
无功老化测试系统
面向 IGBT 与 SiC 功率模块的自动化无功电流循环老化，将上下料、测试、监控、风干和分 BIN 整合为完整可靠性流程。
WFP6000 6IN1P04–05
02 · 特性测试 · 开关行为
二电平与三电平动态测试系统
面向 IGBT 与 SiC 器件的应用导向型开关特性测试，在量产级平台上覆盖二电平与三电平拓扑。
WTDS2015 / WTTDS2015P06–07
03 · 特性测试 · 直流参数
静态参数测试系统
面向功率模块、DBC/AMB 基板与分立器件的高压大电流直流参数测试，覆盖工程验证与量产筛选。
WTSS 系列P08–09
04 · 量产 · 集成 FT
自动化 FT 最终测试单元
可配置的量产测试单元，将绝缘、静态、动态、视觉与弧度检测，和机器人上下料及模块化夹具整合在同一流程。
可配置 FT 测试单元P10–11
05 · 量产 · 器件分选
分立半导体与 IPM 测试系统
面向分立功率半导体与智能功率模块的可配置测试分选平台，覆盖 DC、AC 与可靠性项目。
TO / IPM 系列P12–13
06 · 研发 · 工程验证
实验室测试平台
面向静态与动态器件研究、参数曲线开发和可控温度评估的灵活工程平台。
实验室配置P14–15
07 · 晶圆 · 芯片筛选
KGD 已知良品芯片测试系统
面向 SiC 晶圆级芯片的自动化 AC/DC 与视觉筛选，在模块封装前区分并叠放良品与缺陷品。
KGD / CP 平台P16–17
08 · 系统集成 · 测试接口
提交测试需求测试夹具、电感与安全集成
围绕具体应用提供空心电感、低杂感夹具与高压安全箱，补全从测量回路到安全操作的测试环境。
按应用配置P18
APPLICATION ENGINEERING · SHENZHEN